JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射電子顯微鏡標(biāo)配了冷場發(fā)射電子槍和全新的高階球差校正器。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實(shí)現(xiàn)原子級分辨率的觀察與分析。同時(shí)還配備了自動(dòng)像差校正系統(tǒng)，采用像差校正算法，可以自動(dòng)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。由此實(shí)現(xiàn)了高通量的原子級分辨率成像。此外，新型STEM檢測器不依賴于加速電壓就可以獲得高襯度的輕元素圖像。因此，利用能增強(qiáng)輕元素襯度的新STEM成像技術(shù)可以更加簡便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰(襯度)圖像。
 

　　JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射電子顯微鏡配備的新型球差校正器ASCOR能夠校正高階像差(即6重像散，目前阻礙透射電鏡分辨率進(jìn)一步提高的大障礙。)，ASCOR和Cold-FEG的*組合實(shí)現(xiàn)了從高加速電壓到低加速電壓下的高分辨率。JEOL COSMO™采用了全新像差校正算法，校正像差不需要交換標(biāo)準(zhǔn)樣品也可以快速精確地校正至高階像差。與采用傳統(tǒng)校正算法的系統(tǒng)相比，JEOL CMSMO™能夠高速處理數(shù)據(jù)，并且使操作進(jìn)一步自動(dòng)化。因此，客戶在工作流程中可以簡便高效地進(jìn)行高分辨率觀察及各種元素分析。